紅外線氣體分析儀是基于氣體對(duì)紅外光吸收的郎伯--比爾吸收定律，采用上的NDIR技術(shù)， 如電調(diào)制紅外光源、高靈敏度濾光傳感一體化紅外傳感器、高精度前置放大 電路、可拆卸式鍍膜氣室，局部恒溫控制技術(shù)等，實(shí)現(xiàn)不同濃度、不同氣體 (SO2、NOX、CO2、CO、CH4等)的高精度連續(xù)檢測(cè)。

    紅外線氣體分析儀，是利用紅外線進(jìn)行氣體分析。它基于待分析組分的濃度不同，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同，動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣，就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。

    1.比爾定律

    紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)式中:

    I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;

    I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;

    K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);

    C--待分析組分的氣體濃度;

    L--氣室長度(赦測(cè)氣體層的厚度)

    對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀，其測(cè)量組分已定，即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出:通過測(cè)量輻射能量的衰減I，就可確定待分析組分的濃度C了。

    適用于化工、水泥、冶金、電廠等不同領(lǐng)域的氣體分析;根據(jù)客戶不同應(yīng)用領(lǐng)域的要求，如測(cè)量范圍、響應(yīng)時(shí)間、供電特點(diǎn)等，實(shí)現(xiàn)對(duì)不同濃度、不同氣體(SO2、NOX、CO2、CO、CH4、N2O等)的高精度連續(xù)檢測(cè)和記錄;可為用戶集成系統(tǒng)應(yīng)用方案，如化工過程控制、連續(xù)污染物檢測(cè)系統(tǒng)(CEMS)等。